国家专业标准：A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法22011/12/07

8 盲区测试方法

8.1  概要

本测试是为了测定超声探伤系统在规定探伤灵敏度下，从探伤表面至可探测缺陷的最小距离。测试时使用DZ—1型试块（见附录C）。探伤仪的抑制置于“0”或“断”，除灵敏度调节外，其它调整取适当值。

8.2  方法

8.2.1  调节超声探伤仪灵敏度，使符合探伤规范的要求（作为参考，可以采用Φ20mm直探头，并调整仪器灵敏度使来自DB—P Z20—2型或Z20—4型试块的平底孔回波达50％满刻度）。

8.2.2  将探头压在DZ—1型试块上，中间加适当耦合剂以保持稳定的声耦合。选择能够分辨得开的最短探测距离的Φ2mm横孔，并将孔的回波幅度调至大于50％满刻度，如回波的前沿和始波后沿相交的波谷低于10％满刻度，则此最短距离即为盲区。

9 斜探头入射点测试方法

9.1  概要

本测试是为了测定斜探头声束中心在入射探伤面上的位置（入射点）。测试时使用1号标准试块（ZB Y232）或CSK—IA试块。

9.2  方法

9.2.1  将斜探头压在试块上如图4所示的位置，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。使声束朝向R100mm的曲面，并在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，至曲面回波的幅度达到最大。

9.2.2  读出试块上R100mm 圆心标记线所对应的探头侧面刻度，此刻度位置即斜探头的入射点，读数应精确到0.5mm。

图 4

10  斜探头折射角或K值的测试方法

10.1  概要

本测试是为了测定斜探头声束入射于探伤面时的折射角（ ）或斜探头的K（K＝tg ）的值。测试时使用1号标准试块（ZB Y232）或CSK—IA型试块。

10.2  方法

10.2.1  根据斜探头折射角的不同标称值，把探头压在1号标准试块上的不同位置（如图5），中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。

a.       当折射角为34^o～66^o时，探头放在图5（a）的位置，使用Ф50mm孔的回波进行测定。

b.       当折射角为60^o～75^o时，探头放在图5（b）的位置，使用Ф50mm孔的回波进行测定。

图 5

c.       当折射角为74^o～80^o时，探头放在图5（c）的位置，使用Ф1.5mm孔的回波进行测定。

在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，使回波达到最大。

10.2.2  读出探头入射点在试块侧面上所对应的角度刻度值，此刻度值即为斜探头的折射角β，读数应精确到0.5度。

10.2.3  也可使用CSK—IA型试块直接测定斜探头的K值。将斜探头压在试块上的不同位置，如图5（a）和5（b），中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。

a.       当K值为1.0～1.5时，探头放在图5（a）的位置，使用Ф50mm孔的回波进行测定。

b.       当K值为2.0～3.0时，探头放在图5（b）的位置，使用Ф50mm孔的回波进行测定。

在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，使回波达到最大。从探头入射点在试块侧面所对应的刻度值即可直接读出斜探头的K值。

11  斜探头分辨力测试方法

11.1  概要

本测试是为了检查超声探伤系统（斜探头）的分辨力。测试时使用CSK—IA型试块，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值。

11.2  方法

11.2.1  根据斜探头的折射角或K值，将探头压在CSK—IA型试块上，其位置如图5（a）或5（b）所示，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。移动探头位置使来自Ф50mm和Ф44mm两孔的回波A、B高度相等，并约为20％～30％满刻度,如图6中h1。

图 6

11.2.2  调节衰减器，使A、B两波峰间的波谷上升到原来波峰高度，此时衰减器所释放的dB数（等于用衰减器读出的缺口深度h1／h2之值）即为以dB值表示的超声探伤系统（斜探头）分辨力Z。

12  斜探头灵敏度余量测试方法

12.1  概要

本测试是为了检查超声探伤系统在经过一段使用时期后的灵敏度变化情况，以及在实际应用中表示不同斜探头灵敏度的相对值。测试时使用1号标准试块（ZB Y232）或CSK—IA型试块。探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其它调整取适当值。

12.2  方法

12.2.1  将超声探伤仪的增益调至最大；但如电噪声较大时，应降低增益（调节增益控制器或衰减器）使电噪声电平降至10％满刻度，设此时衰减器的读数为 o。

12.2.2  将探头压在试块上，位置如图4所示，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。调节衰减器使来自R100mm曲面的回波高度降至50％满刻度。设此时衰减器的读数为 1。

12.2.3  斜探头灵敏度余量（以dB表示）由下式给出：

＝ 1－ o……………………………………………⑷

13  测试报告

在测试报告中，除应按要求的检查内容记录各个项目的测试结果外，还应同时记录下列各项：

a.       探伤仪和探头的制造厂名、型式和编写；

b.       试块的制造厂名、型式和编号；

c.       测试频率；

d.       仪器上各控制器的调整值；

e.       测试操作者姓名；

f.       测试日期；

g.       事先规定需记录的其它内容。

                              附录A DB-P型试块

（补充件）

A1 形状和尺寸

mm

A2 技术要求

a.       试块材料采用45号优质碳素结构钢，主要化学成份应符合GB 699—65《优质碳素结构钢钢号和一般技术条件》规定；

b.       试块坯料经锻造和热处理，晶粒度应达7级；

c.       试块的探测面及侧面，在2.5MHz以上频率及高灵敏度条件下进行探伤，不得出现大于距探测面20mm处的Ф2mm平底孔反射回来的回波幅度1/4的缺陷回波。

附录B CSK-ⅠA型试块

（补充块）

B1 形状和尺寸

尺寸公差±0.1

各边不垂直度不大于0.05

B2 技术要求

a.       试块材料采用20号优质碳素结构钢，主要化学成份符合GB699的规定；

b.       试块坯料经锻造和热处理，晶粒度应达7级；

c.       使用5MHz的直探头，分别对试块的前侧面、后侧面、顶面、底面进行全面积的接触法超声波探伤，不得出现大于距探测面20mm处的Ф2mm反射回来的回波幅度1/4的缺陷回波。

附录C DZ-Ⅰ型试块

 (补充件)

C1 形状和尺寸

C2 技术要求

a.       试块材料采用45号优质碳素结构钢,主要化学成份应符合GB699的规定；

b.       试块坯料经锻造和热处理，晶粒度应达7级；

c.       试块的探测面及侧面，在2.5Mhz 以上频率及高灵敏度条件下进行探伤,不得出现于距深测面20mm处的Ф2mm反射回来的回波幅度1/4的缺陷回波。

                              __________________

附加说明：

本标准由上海材料研究所提出并归口。

本标准由上海材料研究所负责起草。

本标准主要起草人：曾克京

国家机械工业委员会批准                          1988-01-01实施